Dependable Contact Related Parameter Extraction in Graphene-Metal Junctions

Gahoi, Amit; Kataria, Satender; Driussi, Francesco; Venica, Stefano; Pandey, Himadri; Esseni, David; Selmi, Luca; Lemme, Max C. (Corresponding author)

Weinheim : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KG (2020)
Fachzeitschriftenartikel

In: Advanced electronic materials
Band: 20
Heft: 10
Seite(n)/Artikel-Nr.: 2000386

Einrichtungen

  • AMICA - Advanced Microelectronic Center Aachen [052600]
  • Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente [618710]

Identifikationsnummern

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