AFM-Based Hamaker Constant Determination with Blind Tip Reconstruction

Ku, Benny; van de Wetering, Ferdinandus; Bolten, Jens; Stel, Bart; van de Kerkhof, Mark A.; Lemme, Max C. (Corresponding author)

Weinheim : Wiley (2022)
Fachzeitschriftenartikel

In: Advanced materials technologies
Seite(n)/Artikel-Nr.: 2200411

Einrichtungen

  • Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente [618710]

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