Veröffentlichung: Direct observation of grain boundaries in graphene through vapor hydrofluoric acid (VHF) exposure

21.06.2018
  drei Ramanspektroskopiebilder Urheberrecht: Stefan Wagner

Diese Methode zur Bewertung von atomaren Defekten in Graphen könnte dazu beitragen, die Produktion von diesem "Wunder"-Leitern in großem Maßstab anzukurbeln. Die Arbeiten wurden in Zusammenarbeit zwischen der Königlich Technischen Hochschule (KTH) Stockholm, der RWTH Aachen, der Technischen Universität Chemnitz und der AMO GmbH durchgeführt. Es wurde kürzlich in Science Advances veröffentlicht.

Die Forscher der RWTH Aachen und ihre Kollegen fanden eine experimentelle Methode zur korrekten Visualisierung der Graphenkorngrenzen. Die Studie bietet eine Methode zur einfachen, schnellen und kostengünstigen Beobachtung der Größe und Verteilung von Korngrenzen in großem Maßstab durch den Einsatz von Standardprozessen in Waferfabriken, nämlich dem Ätzen von Flusssäure (VHF) und der optischen Mikroskopinspektion. Bisher gibt es keine Methode, die in Einfachheit, Geschwindigkeit und Maßstab mit dieser Methode zur Visualisierung von Korngrenzen in großflächigem CVD-Graphen auf einem Siliziumdioxid Substrat vergleichbar ist. Wissenschaftler könnten bei der kontrollierten Entwicklung dieser unvermeidlichen Fehler große Vorteile erzielen.

Die Forschung wurde vom Europäischen Forschungsrat durch die Starting Grants M&M's (277879) und InteGraDe (307311), den Schwedischen Forschungsrat (GEMS, 2015-05112), den China Scholarship Council (CSC), das Bundesministerium für Bildung und Forschung (NanoGraM, BMBF, 03XP0006C), die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG, LE 2440/1-2) und die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) über das Schwerpunktprogramm SPP 1459 Graphene gefördert.